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2.彎曲過度
光纜彎曲損耗和受壓損耗其本質(zhì)都是由于光不滿足全內(nèi)反射的條件而造成的。
光纖具有一定的易彎曲性，盡管可以彎曲，但當(dāng)光纖彎曲到一定程度時(shí)，將引起光的傳播途徑的改變，使一部分光能滲透到包層中或穿過包層成為輻射模向外泄漏損失掉，產(chǎn)生彎曲損耗。當(dāng)光在彎曲部分中傳輸時(shí)，越靠近光纖外側(cè)傳輸速度就越大。當(dāng)傳輸?shù)侥骋晃恢脮r(shí)，其速度就會(huì)超過光速，傳導(dǎo)模變成輻射模產(chǎn)生損耗。當(dāng)彎曲半徑過小時(shí)，由彎曲造成的損耗會(huì)變得非常明顯。所以，一般建議動(dòng)態(tài)彎曲半徑不得小于光纜外徑的20倍，靜態(tài)彎曲半徑不得小于光纜外徑的15倍,
實(shí)際使用中，光纖中數(shù)據(jù)是沿直線傳播的，光纖保持不彎曲，數(shù)據(jù)就不會(huì)出現(xiàn)問題;如果彎一點(diǎn)，數(shù)據(jù)就開始溢出;如果把光纖緊緊纏繞成一個(gè)圈，就會(huì)徹底失去信號。所以，在布線施工時(shí)，要特別注意給走線預(yù)留充足的角度，例如沿著墻角、走廊、桌面稍微彎曲過渡，傳輸就可能失敗了。
另一方面，也可以利用彎曲將光纖中高次模過濾掉，從而提高光線衰減測量時(shí)的穩(wěn)定性。圖2顯示了光信號在光纖中輻射模衰減的原理，以及經(jīng)卷軸調(diào)制高次模的過程。
3.光纜受壓或斷裂
光纖受到不均勻應(yīng)力的作用，例如受到壓力或者套塑光纖受到溫度變化時(shí)，光纖軸產(chǎn)生微小不規(guī)則彎曲甚至斷裂，其結(jié)果是傳導(dǎo)模變換為輻射模而導(dǎo)致光能損耗。尤其，當(dāng)斷裂發(fā)生在光纜內(nèi)部時(shí)，從外表無法發(fā)現(xiàn)故障，但是在光纖斷裂處由于折射率發(fā)生突變，甚至?xí)纬煞瓷鋼p耗，使光纖的信號質(zhì)量相信就會(huì)大打折扣。此時(shí)，可以通過OTDR測試儀檢測發(fā)現(xiàn)光纖內(nèi)部彎曲處或斷裂點(diǎn)。需要指出的是，在局域網(wǎng)布線中距離較短，所以對于OTDR測試儀的精度要求較高，一般建議使用事件死去(即分辨精度)不大于1m的測試儀器。
4.光纜熔接不良
在光纖布線中，經(jīng)常會(huì)用到熔接技術(shù)將兩段光纖融合成一條。由于是對核心層的玻璃纖維進(jìn)行熔接，所以在熔接過程中需要?jiǎng)兂蝗酃饫w的表皮和填充物，然后再熔接。在現(xiàn)場操作過程中，由于操作不當(dāng)以及惡劣的施工環(huán)境，很容易造成玻璃纖維的污染，從而導(dǎo)致在熔接過程中混入雜質(zhì)、密度變化、甚至產(chǎn)生氣泡如圖3所示，最終是整條鏈路的通信質(zhì)量下降。
所以不論是熱熔或冷熔技術(shù)，為了保證熔接點(diǎn)衰減能夠達(dá)到TIA和ISO共同規(guī)定的0.3dB對于被熔光纖、以及操作流程都嚴(yán)格的要求和規(guī)定。例如需要保證熔接機(jī)電極的清潔，需要在熔接前保證玻璃纖維的干凈，需要保證現(xiàn)場施工環(huán)境溫度和濕度等。當(dāng)遇到光纖熔接問題造成衰減，可以通過OptifiberTM精確判斷每個(gè)熔接點(diǎn)的位置和損耗。 本新聞共 4頁,當(dāng)前在第 2頁 1 2 3 4 |
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