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2.彎曲過度
光纜彎曲損耗和受壓損耗其本質都是由于光不滿足全內反射的條件而造成的。
光纖具有一定的易彎曲性，盡管可以彎曲，但當光纖彎曲到一定程度時，將引起光的傳播途徑的改變，使一部分光能滲透到包層中或穿過包層成為輻射模向外泄漏損失掉，產生彎曲損耗。當光在彎曲部分中傳輸時，越靠近光纖外側傳輸速度就越大。當傳輸?shù)侥骋晃恢脮r，其速度就會超過光速，傳導模變成輻射模產生損耗。當彎曲半徑過小時，由彎曲造成的損耗會變得非常明顯。所以，一般建議動態(tài)彎曲半徑不得小于光纜外徑的20倍，靜態(tài)彎曲半徑不得小于光纜外徑的15倍,
實際使用中，光纖中數(shù)據(jù)是沿直線傳播的，光纖保持不彎曲，數(shù)據(jù)就不會出現(xiàn)問題;如果彎一點，數(shù)據(jù)就開始溢出;如果把光纖緊緊纏繞成一個圈，就會徹底失去信號。所以，在布線施工時，要特別注意給走線預留充足的角度，例如沿著墻角、走廊、桌面稍微彎曲過渡，傳輸就可能失敗了。
另一方面，也可以利用彎曲將光纖中高次模過濾掉，從而提高光線衰減測量時的穩(wěn)定性。圖2顯示了光信號在光纖中輻射模衰減的原理，以及經卷軸調制高次模的過程。
3.光纜受壓或斷裂
光纖受到不均勻應力的作用，例如受到壓力或者套塑光纖受到溫度變化時，光纖軸產生微小不規(guī)則彎曲甚至斷裂，其結果是傳導模變換為輻射模而導致光能損耗。尤其，當斷裂發(fā)生在光纜內部時，從外表無法發(fā)現(xiàn)故障，但是在光纖斷裂處由于折射率發(fā)生突變，甚至會形成反射損耗，使光纖的信號質量相信就會大打折扣。此時，可以通過OTDR測試儀檢測發(fā)現(xiàn)光纖內部彎曲處或斷裂點。需要指出的是，在局域網(wǎng)布線中距離較短，所以對于OTDR測試儀的精度要求較高，一般建議使用事件死去(即分辨精度)不大于1m的測試儀器。
4.光纜熔接不良
在光纖布線中，經常會用到熔接技術將兩段光纖融合成一條。由于是對核心層的玻璃纖維進行熔接，所以在熔接過程中需要剝除被熔光纖的表皮和填充物，然后再熔接。在現(xiàn)場操作過程中，由于操作不當以及惡劣的施工環(huán)境，很容易造成玻璃纖維的污染，從而導致在熔接過程中混入雜質、密度變化、甚至產生氣泡如圖3所示，最終是整條鏈路的通信質量下降。
所以不論是熱熔或冷熔技術，為了保證熔接點衰減能夠達到TIA和ISO共同規(guī)定的0.3dB對于被熔光纖、以及操作流程都嚴格的要求和規(guī)定。例如需要保證熔接機電極的清潔，需要在熔接前保證玻璃纖維的干凈，需要保證現(xiàn)場施工環(huán)境溫度和濕度等。當遇到光纖熔接問題造成衰減，可以通過OptifiberTM精確判斷每個熔接點的位置和損耗。 |
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