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邏輯虛電路性能測(cè)試
完成了物理層和幀中繼設(shè)置測(cè)試之后，基本上確保了幀中繼物理和邏輯平臺(tái)的可用性。此時(shí)需要針對(duì)這一虛電路進(jìn)行性能測(cè)試。這一測(cè)試從原理上來(lái)說(shuō)類似于物理層的誤碼率測(cè)試，只是在幀中繼層的一條邏輯虛電路上進(jìn)行的。用戶需要指定虛電路的DLCI編號(hào)，設(shè)置發(fā)送數(shù)據(jù)的速率，并在電路的遠(yuǎn)端設(shè)置PVC 的環(huán)回。測(cè)試儀在指定PVC上模擬產(chǎn)生幀中繼流量，測(cè)試下列參數(shù)：幀丟失率（小于<0.2%）、數(shù)據(jù)傳輸率(符合合同租用速率)、傳輸時(shí)延（小于10ms）等。如果各項(xiàng)指標(biāo)都合格，表明被測(cè)虛電路在測(cè)試時(shí)間內(nèi)性能合格。如果某些指標(biāo)不合格，需要進(jìn)一步在端至端電路中間的各個(gè)轉(zhuǎn)接點(diǎn)依次做環(huán)回測(cè)試，以定位故障點(diǎn)。
IP 層測(cè)試
幀中繼網(wǎng)絡(luò)只是為數(shù)據(jù)傳輸提供了一個(gè)平臺(tái)。目前在該平臺(tái)上傳輸?shù)牡湫蜆I(yè)務(wù)是基于IP 的應(yīng)用。因此，在確保物理層和幀中繼層沒(méi)有問(wèn)題之后，還應(yīng)進(jìn)行基本的IP 層測(cè)試，其中最常用的就是IP Ping 測(cè)試。IP Ping測(cè)試的結(jié)果將給出Ping丟失率，時(shí)延和相關(guān)錯(cuò)誤信息。在此，邏輯虛電路對(duì)端的IP地址（如果已設(shè)置）是通過(guò)（ARP／RARP）方式獲取的。實(shí)際上，幀中繼的傳輸平臺(tái)對(duì)IP 應(yīng)用是透明的，所以對(duì)IP層其他更深入的測(cè)試方法都可以直接使用。
以上測(cè)試指標(biāo)合格后，該幀中繼鏈路即可投入使用。
測(cè)試案例
我們來(lái)看一下某商業(yè)銀行2M幀中繼鏈路的測(cè)試過(guò)程，網(wǎng)絡(luò)拓?fù)湟?jiàn)圖2。
該銀行的金海分理處通過(guò)16端口的PDH設(shè)備接入廣電的機(jī)房B，連接ATM設(shè)備的2/3端口，銀行總行以同樣的方式接入機(jī)房A。將測(cè)試儀（本文以FLUKE660幀中繼測(cè)試儀為例）按圖1所示接入網(wǎng)絡(luò)中，也就是圖2中商行總行的路由器前。在金海里分理處的路由器前進(jìn)行物理打環(huán)。
圖2 某商業(yè)銀行網(wǎng)絡(luò)拓?fù)鋱D
圖3 測(cè)試儀通訊軟件窗口
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