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P-list (永久缺陷表)
現(xiàn)在的硬盤密度越來越高，單張盤片上存儲的數(shù)據(jù)量超過40Gbytes. 硬盤廠家在生產(chǎn)盤片過程極其精密，但也極難做到100%的完美，硬盤盤面上或多或少存在一些缺陷。廠家在硬盤出廠前把所有的硬盤都進(jìn)行低級格式化，在低級格式化過程中將自動找出所有defect track和defect sector，記錄在P-list中。并且在對所有磁道和扇區(qū)的編號過程中，將skip（跳過）這些缺陷部分，讓用戶永遠(yuǎn)不能用到它們。這樣，用戶在分區(qū)、格式化、檢查剛購買的新硬盤時(shí)，很難發(fā)現(xiàn)有問題。一般的硬盤都在P-list中記錄有一定數(shù)量的defect, 少則數(shù)百，多則數(shù)以萬計(jì)。如果是SCSI硬盤的話可以找到多種通用軟件查看到P-list，因?yàn)楦鞣N牌子的SCSI硬盤使用兼容的SCSI指令集。而不同牌子不同型號的IDE硬盤，使用各自不同的指令集，想查看其P-list要用針對性的專業(yè)軟件。
G-list (增長缺陷表)
用戶在使用硬盤過程中，有可能會發(fā)現(xiàn)一些新的defect sector。 按“三包”規(guī)定，只要出現(xiàn)一個(gè)defect sector，商家就應(yīng)該為用戶換或修�，F(xiàn)在大容量的硬盤出現(xiàn)一個(gè)defect sector概率實(shí)在很大，這樣的話硬盤商家就要為售后服務(wù)忙碌不已了。于是，硬盤廠商設(shè)計(jì)了一個(gè)自動修復(fù)機(jī)制，叫做Automatic Reallcation。有大多數(shù)型號的硬盤都有這樣的功能：在對硬盤的讀寫過程中，如果發(fā)現(xiàn)一個(gè)defect sector，則自動分配一個(gè)備用扇區(qū)替換該扇區(qū)，并將該扇區(qū)及其替換情況記錄在G-list中。這樣一來，少量的defect sector對用戶的使用沒有太大的影響。
也有一些硬盤自動修復(fù)機(jī)制的激發(fā)條件要嚴(yán)格一些，需要用某些軟件來判斷defect sector,并通過某個(gè)端口（據(jù)說是50h）調(diào)用自動修復(fù)機(jī)制。比如常用的Lformat, ADM，DM中的Zero fill，Norton中的Wipeinfo和校正工具，西數(shù)工具包中的wddiag, IBM的DFT中的Erase等。這些工具之所以能在運(yùn)行過后消除了一些“壞道”，很重要的原因就在這Automatic Reallcation（當(dāng)然還有其它原因），而不能簡單地概括這些“壞道”是什么“邏輯壞道”或“假壞道”。 如果哪位被誤導(dǎo)中毒太深的讀者不相信這個(gè)事實(shí)，等他找到能查看G-list的專業(yè)工具后就知道，這些工具運(yùn)行過后，G-list將會增加多少記錄！“邏輯壞道”或“假壞道”有必要記錄在G-list中并用其它扇區(qū)替換么？
當(dāng)然，G-list的記錄不會無限制，所有的硬盤都會限定在一定數(shù)量范圍內(nèi)。如火球系列限度是500，美鉆二代的限度是636，西數(shù)BB的限度是508，等等。超過限度，Automatic Reallcation就不能再起作用。這就是為何少量的“壞道”可以通過上述工具修復(fù)（有人就概括為：“邏輯壞道”可以修復(fù)），而壞道多了不能通過這些工具修復(fù)（又有人概括為：“物理壞道”不可以修復(fù)）。
Bad track (壞道）
這個(gè)概念源于十多年前小容量硬盤（100M以下），當(dāng)時(shí)的硬盤在外殼上都貼有一張小表格，上面列出該硬盤中有缺陷的磁道位置（新硬盤也有）。在對這個(gè)硬盤進(jìn)行低級格式化時(shí)（如用ADM或DM 5.0等工具,或主板中的低格工具），需要填入這些Bad track的位置, 以便在低格過程中跳過這些磁道�，F(xiàn)在的大容量硬盤在結(jié)構(gòu)上與那些小容量硬盤相差極大，這個(gè)概念用在大容量硬盤上有點(diǎn)牽強(qiáng)。
讀者們還可能發(fā)現(xiàn)國內(nèi)很多刊物和網(wǎng)上文章中還有這么幾個(gè)概念：物理壞道，邏輯壞道，真壞道，假壞道，硬壞道，軟壞道等。高朋在國外的硬盤技術(shù)資料中沒有找到對應(yīng)的英文概念，也許是中國人自己概括的吧？既然有那么多的人能接受這些概念，也許某些專家能作出一些的合理解釋。 高朋不習(xí)慣使用這些概念，不想對它們作牽強(qiáng)的解釋，讀者們看看是誰說的就去問誰吧。
深入了解硬盤參數(shù)
正常情況下，硬盤在接通電源之后，都要進(jìn)行“初始化”過程（也可以稱為“自檢”）。這時(shí)，會發(fā)出一陣子自檢聲音，這些聲音長短和規(guī)律視不同牌子硬盤而各不一樣，但同型號的正常硬盤的自檢聲音是一樣的。 有經(jīng)驗(yàn)的人都知道，這些自檢聲音是由于硬盤內(nèi)部的磁頭尋道及歸位動作而發(fā)出的。為什么硬盤剛通電就需要執(zhí)行這么多動作呢？簡單地說，是硬盤在讀取的記錄在盤片中的初始化參數(shù)。 本新聞共 5頁,當(dāng)前在第 2頁 1 2 3 4 5 |
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